
產(chǎn)品分類
Cassification
發(fā)布時間:2025/9/4
瀏覽次數(shù):115正常結(jié)霜場景:當(dāng)溫濕度試驗箱進(jìn)行 - 10℃以下低溫測試時,若試驗前箱內(nèi)殘留濕氣(如樣品帶水、開門引入濕空氣),或測試樣品自身含揮發(fā)性水分,濕氣接觸≤0℃的內(nèi)膽壁會凝結(jié)成霜,此為正常物理現(xiàn)象。符合 GB/T 2423.1-2008 標(biāo)準(zhǔn)的溫濕度試驗箱,在 - 40℃低溫試驗后,內(nèi)膽均勻結(jié)霜厚度≤5mm 均屬正常,如廣皓天臺式溫濕度試驗箱在常規(guī)低溫測試后,結(jié)霜多集中于蒸發(fā)器附近,不影響設(shè)備核心部件。

異常結(jié)霜場景:若結(jié)霜集中在門封條處(厚度超 8mm)、傳感器探頭被霜包裹,或試驗過程中霜層快速增厚導(dǎo)致風(fēng)機(jī)卡頓,則屬異常。多因溫濕度試驗箱門封條老化泄漏(如硅橡膠密封條硬化開裂)、除濕系統(tǒng)故障(如分子篩失效),或試驗前未對樣品進(jìn)行干燥處理所致,需及時檢修設(shè)備或優(yōu)化樣品預(yù)處理流程。

損壞設(shè)備核心部件:霜層融化會產(chǎn)生大量積水,若直接升溫,積水可能滲入溫濕度試驗箱的加熱管、電路板及風(fēng)機(jī)軸承,導(dǎo)致短路、部件銹蝕。某企業(yè)使用未除霜的溫濕度試驗箱直接升溫,導(dǎo)致加熱管燒毀,維修成本超 5000 元,設(shè)備停機(jī) 7 天。
導(dǎo)致測試數(shù)據(jù)失真:霜層融化過程中會吸收熱量,使溫濕度試驗箱升溫速率大幅下降(如正常 5℃/min 降至 1℃/min),且箱內(nèi)溫濕度分布不均(偏差超 ±3℃/10% RH),無法滿足 IEC 60068-2-1 標(biāo)準(zhǔn)要求。例如測試電子元件低溫恢復(fù)性能時,不除霜升溫會導(dǎo)致元件溫度波動超 5℃,誤判產(chǎn)品可靠性。

縮短設(shè)備使用壽命:頻繁不除霜升溫會加速溫濕度試驗箱壓縮機(jī)、電磁閥等部件損耗,使設(shè)備平均運行時間(MTBF)從 8000 小時降至 5000 小時以下,增加后期維護(hù)頻率與成本。
結(jié)霜判斷與處理手冊:包含溫濕度試驗箱正常 / 異常結(jié)霜對比圖、除霜操作流程圖(如手動除霜步驟、自動除霜功能設(shè)置方法),及不同低溫區(qū)間(-10℃/-25℃/-40℃)的除霜時長建議。
設(shè)備維護(hù)資料:涵蓋溫濕度試驗箱門封條更換教程、除濕系統(tǒng)保養(yǎng)指南(如分子篩再生方法),及結(jié)霜相關(guān)故障排查表(如傳感器除霜步驟、風(fēng)機(jī)清理流程)。
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