正常凝露場(chǎng)景：當(dāng)溫濕度試驗(yàn)箱內(nèi)濕度達(dá)到露點(diǎn)溫度，且樣品表面溫度低于環(huán)境露點(diǎn)時(shí)，空氣中水汽會(huì)在樣品表面凝結(jié)，此為正常物理現(xiàn)象。符合 GB/T 2423.3-2006 標(biāo)準(zhǔn)的溫濕度試驗(yàn)箱，在 “40℃+90% RH" 濕熱試驗(yàn)后，若樣品為金屬、玻璃等導(dǎo)熱性強(qiáng)的材質(zhì)，表面出現(xiàn)均勻薄霜狀凝露（厚度≤0.1mm）均屬正常。例如使用廣皓天立式溫濕度試驗(yàn)箱測(cè)試汽車金屬零部件時(shí)，試驗(yàn)結(jié)束后樣品表面短暫凝露，且在 30 分鐘內(nèi)自然干燥，不影響后續(xù)性能檢測(cè)。

異常凝露場(chǎng)景：若凝露集中在樣品關(guān)鍵功能區(qū)（如電子元件引腳、密封接口）、凝露厚度超 0.5mm，或試驗(yàn)過程中持續(xù)凝露導(dǎo)致樣品浸泡，則屬異常。多因溫濕度試驗(yàn)箱溫濕度控制精度偏差（如濕度波動(dòng)超 ±5% RH）、樣品預(yù)處理不當(dāng)（如未按要求密封易受潮部件），或試驗(yàn)程序設(shè)置錯(cuò)誤（如降溫速率過快）所致，需調(diào)整溫濕度試驗(yàn)箱參數(shù)或優(yōu)化樣品處理流程。

影響電氣性能測(cè)試：對(duì)于電子類樣品（如 IC 芯片、電路板），凝露會(huì)導(dǎo)致表面絕緣電阻下降，甚至引發(fā)短路。某企業(yè)使用溫濕度試驗(yàn)箱測(cè)試傳感器時(shí)，因樣品表面凝露未處理，測(cè)得的絕緣電阻值從 100MΩ 降至 1MΩ，誤判產(chǎn)品不合格，重新干燥處理后測(cè)試數(shù)據(jù)恢復(fù)正常。

干擾機(jī)械性能評(píng)估：金屬樣品表面凝露可能加速銹蝕，若試驗(yàn)?zāi)康氖菣z測(cè)抗腐蝕性能，未區(qū)分 “試驗(yàn)環(huán)境腐蝕" 與 “凝露額外腐蝕" 會(huì)導(dǎo)致結(jié)果失真。例如在溫濕度試驗(yàn)箱“50℃+95% RH" 試驗(yàn)后，金屬部件銹蝕面積因凝露增加 20%，夸大了實(shí)際腐蝕風(fēng)險(xiǎn)。

部分場(chǎng)景無顯著影響：若測(cè)試樣品為非金屬絕緣材料（如塑料外殼、橡膠密封圈），且試驗(yàn)關(guān)注指標(biāo)為拉伸強(qiáng)度、耐老化性能，短暫輕微凝露通常不會(huì)影響結(jié)果。如廣皓天溫濕度試驗(yàn)箱測(cè)試光伏組件 EVA 膠膜時(shí)，樣品表面凝露后測(cè)得的黃變指數(shù)與無凝露狀態(tài)下偏差僅 0.2，符合誤差允許范圍。