廣皓天推出復層試驗箱搭載防結(jié)露技術(shù)，適配半導體芯片高低溫循環(huán)測試

更新時間：2025-08-22

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在半導體芯片制造領(lǐng)域，對芯片可靠性和穩(wěn)定性的嚴苛要求促使相關(guān)測試技術(shù)不斷升級。近日，廣皓天檢測儀器有限公司推出了一款創(chuàng)新型復層式試驗箱，該設(shè)備搭載先進的防結(jié)露技術(shù)，專為半導體芯片高低溫循環(huán)測試量身定制，有望重塑芯片測試行業(yè)標準。

廣皓天推出復層試驗箱搭載防結(jié)露技術(shù)，適配半導體芯片高低溫循環(huán)測試

半導體芯片在實際應用中，常面臨復雜多變的溫度環(huán)境，從高溫運行到低溫存儲，頻繁的高低溫循環(huán)考驗著芯片的性能與可靠性。與此同時，結(jié)露現(xiàn)象一旦發(fā)生，會導致芯片引腳短路、腐蝕，進而嚴重影響測試結(jié)果的準確性，甚至損壞芯片。廣皓天的復層式試驗箱精準聚焦這些痛點，通過技術(shù)革新有效化解難題。

該試驗箱的防結(jié)露技術(shù)基于精密的露點控制算法。設(shè)備內(nèi)置高精度濕度傳感器與溫度傳感器，能夠?qū)崟r監(jiān)測箱內(nèi)各層環(huán)境的溫濕度數(shù)據(jù)。在高低溫循環(huán)測試過程中，當檢測到環(huán)境溫濕度接近露點時，系統(tǒng)迅速啟動防結(jié)露程序。一方面，通過優(yōu)化制冷系統(tǒng)的運行邏輯，精確調(diào)節(jié)制冷量，避免溫度驟降引發(fā)水汽凝結(jié)；另一方面，利用高效的除濕組件，快速降低箱內(nèi)濕度，始終將環(huán)境狀態(tài)維持在安全區(qū)間。例如，在從高溫 125℃迅速降溫至 -55℃的工況下，該技術(shù)可確保試驗箱內(nèi)濕度在短時間內(nèi)精準調(diào)節(jié)，防止結(jié)露現(xiàn)象發(fā)生，為芯片測試提供穩(wěn)定可靠的環(huán)境。

廣皓天推出復層試驗箱搭載防結(jié)露技術(shù)，適配半導體芯片高低溫循環(huán)測試

在溫控性能上，復層式試驗箱同樣表現(xiàn)。各層獨立配備加熱與制冷模塊，加熱元件采用高效的納米薄膜發(fā)熱體，熱響應時間極短，僅需＜0.3 秒，就能快速精準地調(diào)節(jié)溫度，溫度調(diào)節(jié)精度可達 0.05℃。制冷系統(tǒng)運用三極復疊式設(shè)計，針對不同溫區(qū)適配不同制冷劑，在 -80℃的低溫環(huán)境下仍能保持 5.2kW 的強大制冷量，確保芯片在高低溫循環(huán)測試中，溫度變化平穩(wěn)且精準，避免因溫度沖擊對芯片造成不可逆損傷。

此外，試驗箱的多層結(jié)構(gòu)設(shè)計極大提升了測試效率。每層均可獨立設(shè)定測試程序，可同時對不同類型、不同批次的半導體芯片開展高低溫循環(huán)測試，大幅縮短測試周期，滿足半導體企業(yè)大規(guī)模、多樣化的測試需求。以某半導體企業(yè)為例，在采用廣皓天復層式試驗箱后，芯片高低溫循環(huán)測試效率提升了 50%，測試成本顯著降低。

廣皓天推出復層試驗箱搭載防結(jié)露技術(shù)，適配半導體芯片高低溫循環(huán)測試

廣皓天相關(guān)技術(shù)負責人表示：“此次推出搭載防結(jié)露技術(shù)的復層式試驗箱，是我們深入洞察半導體芯片測試需求后的創(chuàng)新成果。未來，我們將持續(xù)深耕，不斷優(yōu)化產(chǎn)品性能，為半導體行業(yè)提供更優(yōu)質(zhì)、更專業(yè)的測試解決方案，助力產(chǎn)業(yè)邁向更高發(fā)展臺階。"

隨著半導體產(chǎn)業(yè)對芯片質(zhì)量把控的日益嚴格，廣皓天這款新型復層式試驗箱憑借其防結(jié)露技術(shù)與出色的溫控性能，有望成為半導體芯片高低溫循環(huán)測試的設(shè)備，推動整個行業(yè)測試水平的提升，為半導體產(chǎn)業(yè)的蓬勃發(fā)展注入強勁動力。

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