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非飽和加速老化試驗(yàn)箱 電子行業(yè)可靠性是模擬高溫、高濕、高壓非飽和蒸汽環(huán)境的精密試驗(yàn)設(shè)備。它通過(guò)創(chuàng)造遠(yuǎn)高于傳統(tǒng)恒溫恒濕箱（如85℃/85%RH）的嚴(yán)苛條件，在不施加電偏壓的情況下，極大加速材料吸濕、腐蝕、分層等失效過(guò)程，是評(píng)估產(chǎn)品耐濕性和長(zhǎng)期可靠性的關(guān)鍵工具。

HAST加速老化箱，快速模擬溫濕度環(huán)境是一款利用高溫、高濕及高壓環(huán)境，快速模擬并放大產(chǎn)品在自然環(huán)境下長(zhǎng)期所受濕熱應(yīng)力的高可靠性測(cè)試設(shè)備。它通過(guò)非飽和或飽和蒸汽原理，在數(shù)小時(shí)或數(shù)天內(nèi)重現(xiàn)常規(guī)溫濕度測(cè)試需要數(shù)月甚至數(shù)年才能誘發(fā)的失效模式，是評(píng)估電子元器件、半導(dǎo)體封裝、新材料及各類工業(yè)產(chǎn)品耐候性與長(zhǎng)期可靠性的關(guān)鍵工具。

HAST加速老化箱 連續(xù)運(yùn)行設(shè)備是一款專為電子元器件、半導(dǎo)體芯片、封裝材料、高分子制品等產(chǎn)品設(shè)計(jì)的高可靠性壽命評(píng)估與失效分析設(shè)備。它通過(guò)模擬并強(qiáng)化高溫、高濕、高氣壓的嚴(yán)苛環(huán)境條件，在短時(shí)間內(nèi)激發(fā)產(chǎn)品的潛在缺陷，實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品長(zhǎng)期使用可靠性的快速驗(yàn)證。本型號(hào)專為需要長(zhǎng)時(shí)間、不間斷的可靠性試驗(yàn)而優(yōu)化設(shè)計(jì)，確保設(shè)備具備穩(wěn)定性與耐久性。

非飽和加速老化箱用于密封件壽命評(píng)估儀器是一款專為密封件（如O型圈、油封、墊片等）壽命評(píng)估而設(shè)計(jì)的非飽和加速老化試驗(yàn)箱。它通過(guò)精確控制溫度、濕度及壓力，在非飽和蒸汽環(huán)境中加速模擬密封件在實(shí)際工況下的老化過(guò)程，從而在短時(shí)間內(nèi)預(yù)測(cè)其長(zhǎng)期使用性能與壽命。設(shè)備采用優(yōu)質(zhì)不銹鋼內(nèi)膽、模塊化設(shè)計(jì)，具備高穩(wěn)定性和重復(fù)性，是密封件研發(fā)、質(zhì)量控制及可靠性評(píng)估的關(guān)鍵儀器。