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U 型錯動彎折試驗機UTG 蓋板

工作原理

U 型錯動彎折試驗機UTG 蓋板

用途

專為 UTG 超薄玻璃蓋板設計，可完成三大核心測試：一是 10 萬次以上 U 型彎折耐久性測試，檢測蓋板是否出現(xiàn)微裂紋、透光率衰減；二是錯動位移疲勞測試，驗證蓋板與 OLED 模組貼合處的抗剝離性能；三是高低溫環(huán)境下的彎折可靠性驗證，為 UTG 材料配方優(yōu)化、厚度選型（20-50μm）及表面強化工藝改進提供數(shù)據(jù)支撐，

彎折角度覆蓋 0-160°（角度精度 ±0.3°），錯動位移控制精度達 ±0.01mm，支持 0.5-30 次 / 分鐘的彎折頻率調(diào)節(jié)，最大循環(huán)次數(shù)可達 20 萬次。夾持平臺平行度確保蓋板受力均勻。配備 4K 工業(yè)相機（放大倍數(shù) 200 倍），可自動識別≥5μm 的微裂紋，測試數(shù)據(jù)與蓋板實際使用壽命的關聯(lián)性達 92% 以上。

集成獨立溫控艙，溫度調(diào)節(jié)范圍 - 40℃-85℃（控溫精度 ±1℃），升溫速率可達 5℃/min。采用風熱循環(huán) + pt1000 鉑電阻雙反饋設計，避免溫度波動導致的測試偏差。支持恒溫（如 25℃常溫測試）、變溫（-20℃至 60℃循環(huán)）兩種模式，可模擬 UTG 在極寒、高溫環(huán)境下的彎折性能，滿足車載、戶外等特殊場景的可靠性驗證需求。