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隔爆型高低溫試驗箱半導體器件測試

隔爆型高低溫試驗箱半導體器件測試,可檢測封裝材料與芯片之間的結合強度,避免因溫度沖擊導致的封裝開裂等問題。

  • 產品型號:THC-80PF-D
  • 廠商性質:生產廠家
  • 更新時間:2025-07-16
  • 訪  問  量:485
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詳細介紹

生產廠家廣東皓天檢測儀器有限公司擁有專業(yè)的生產研發(fā)技術,一站式周到服務。作為一家專注于試驗設備產品的大型儀器制造商,皓天設備致力于為消費者提供技術、品質的優(yōu)秀產品。

隔爆型高低溫試驗箱半導體器件測試

產品詳情

融合了防爆安全結構與快速溫變技術。設備采用分區(qū)式腔體設計,分為高溫區(qū)、低溫區(qū)和測試區(qū),通過特制的傳送機構實現(xiàn)半導體器件在高低溫區(qū)間的快速轉移,可精準模溫度沖擊環(huán)境,為半導體器件的可靠性測試提供穩(wěn)定、安全的試驗平臺。


隔爆型高低溫試驗箱半導體器件測試

隔爆型高低溫試驗箱半導體器件測試

用途

主要用于半導體芯片、集成電路、功率器件等的耐溫變性能測試。在芯片研發(fā)階段,可通過該設備測試芯片在 - 55℃至 125℃的溫度沖擊下,電性能參數(shù)的變化情況,驗證其在溫度環(huán)境下的工作穩(wěn)定性;對于汽車級半導體器件,能模擬發(fā)動機艙內的溫度驟變,評估其在長期溫度沖擊下的使用壽命

隔爆型高低溫試驗箱半導體器件測試

技術參數(shù)
溫度范圍覆蓋 - 65℃至 150℃,高溫區(qū)溫度 150℃,低溫區(qū)溫度 - 65℃。溫度沖擊轉換時間≤10 秒,確保半導體器件能快速經(jīng)歷溫度劇變。溫度恢復時間≤5 分鐘,可連續(xù)進行多次沖擊測試。溫度控制精度 ±1℃,波動度≤±0.5℃。防爆等級達到 Ex d IIC T6,能承受 8MPa 的爆炸壓力,滿足半導體測試的安全要求。
溫度控制系統(tǒng)

采用雙通道 PID 溫控系統(tǒng),分別控制高溫區(qū)和低溫區(qū)的溫度。配備高精度鉑電阻溫度傳感器,可實時監(jiān)測腔體內溫度變化,反饋速度快,響應時間≤0.5 秒。系統(tǒng)支持 100 段程序設定,可根據(jù)不同半導體器件的測試需求,自定義溫度沖擊循環(huán)次數(shù)、高低溫保持時間等參數(shù),實現(xiàn)自動化測試。同時具備超溫保護功能,當溫度超出設定范圍時,立即切斷加熱或制冷電源,并發(fā)出報警信號。





工作原理

設備通過高溫區(qū)加熱和低溫區(qū)制冷,分別營造出高溫和低溫環(huán)境。測試時,將半導體器件放置在傳送機構上,傳送機構根據(jù)設定程序,快速將器件從高溫區(qū)轉移到低溫區(qū),或從低溫區(qū)轉移到高溫區(qū),實現(xiàn)溫度沖擊。在整個過程中,防爆腔體可有效隔離可能出現(xiàn)的爆炸風險,當腔體內壓力異常升高時,防爆泄壓裝置會在 0.3 秒內開啟,釋放壓力,保障設備和操作人員的安全。


隔爆型高低溫試驗箱半導體器件測試


產品優(yōu)勢
采用高效的加熱和制冷系統(tǒng),溫度沖擊速度快,能精準模擬半導體器件在實際應用中遇到的溫度變化,測試結果更可靠。防爆性能優(yōu)異,為半導體器件測試提供了安全保障,特別適合測試過程中可能產生易燃易爆氣體的器件。設備自動化程度高,可減少人為操作誤差,提高測試效率,測試效率較傳統(tǒng)設備提升 30% 以上。此外,設備還具備數(shù)據(jù)存儲和導出功能,方便測試數(shù)據(jù)的追溯和分析,為半導體器件的質量改進提供有力支持。




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