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產(chǎn)品展示/ Product display

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高低溫低氣壓試驗箱 半導(dǎo)體適應(yīng)性測試儀器

高低溫低氣壓試驗箱 半導(dǎo)體適應(yīng)性測試儀器是一款專為半導(dǎo)體行業(yè)設(shè)計的高精密環(huán)境適應(yīng)性測試儀器。它通過模擬高溫、低溫以及低氣壓(真空)環(huán)境,對半導(dǎo)體器件、集成電路(IC)、芯片及封裝模塊進行嚴(yán)格的可靠性評估與篩選,有效驗證其在儲存、運輸及工作狀態(tài)下的性能與可靠性,是確保半導(dǎo)體產(chǎn)品質(zhì)量關(guān)鍵設(shè)備。

  • 產(chǎn)品型號:THC-225PF
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時間:2025-10-28
  • 訪  問  量:220
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詳細(xì)介紹

高低溫低氣壓試驗箱 半導(dǎo)體適應(yīng)性測試儀器

產(chǎn)品詳情

本產(chǎn)品是一款專為半導(dǎo)體行業(yè)設(shè)計的高精密環(huán)境適應(yīng)性測試儀器。它通過模擬高溫、低溫以及低氣壓(真空)環(huán)境,對半導(dǎo)體器件、集成電路(IC)、芯片及封裝模塊進行嚴(yán)格的可靠性評估與篩選,有效驗證其在儲存、運輸及工作狀態(tài)下的性能與可靠性,是確保半導(dǎo)體產(chǎn)品質(zhì)量關(guān)鍵設(shè)備。

主要用途

主要用于測試半導(dǎo)體產(chǎn)品在高海拔、高空或溫度條件下,其電氣性能、物理特性、材料穩(wěn)定性以及封裝完整性是否達標(biāo)。典型測試包括:芯片封裝內(nèi)部氣密性測試、高溫老化測試、溫度循環(huán)測試、高低溫啟動測試等,旨在剔除早期失效產(chǎn)品,提高良品率。

技術(shù)參數(shù)

  • 溫度范圍:-70℃ ~ +150℃(可擴展至-80℃ ~ +180℃)

  • 升溫/降溫速率:1℃ ~ 3℃/min(線性或非線性可調(diào))

  • 氣壓范圍:常壓 ~ 0.5kPa (可模擬高約55000米海拔)

  • 溫場均勻性:≤±2.0℃

  • 控制精度:溫度≤±0.5℃,氣壓≤±0.1kPa

  • 內(nèi)箱尺寸:可根據(jù)需求定制(如80L, 150L, 400L等)



高低溫低氣壓試驗箱 半導(dǎo)體適應(yīng)性測試儀器


箱體結(jié)構(gòu)與材質(zhì)

  • 外箱材質(zhì):優(yōu)質(zhì)冷軋鋼板,表面經(jīng)防靜電噴塑處理,美觀耐腐蝕。

  • 內(nèi)箱材質(zhì):采用SUS304#鏡面不銹鋼板,確保工作室清潔無污染,耐高溫、耐腐蝕。

  • 保溫層:高強度聚氨酯發(fā)泡保溫材料,隔熱性能優(yōu)異,有效降低設(shè)備運行能耗。

  • 觀察窗:多層中空電加熱防霜玻璃,確保在任何工況下都能清晰觀察箱內(nèi)樣品。

  • 引線孔:箱體標(biāo)配測試引線孔,便于在測試過程中對樣品進行通電和實時監(jiān)測。

產(chǎn)品特點

  1. 高精度控制:采用平衡調(diào)溫調(diào)壓技術(shù),配合PID智能算法,確保溫壓控制精確穩(wěn)定。

  2. 半導(dǎo)體專用設(shè)計:對箱內(nèi)潔凈度、靜電防護有特殊考量,避免測試過程對精密半導(dǎo)體造成二次污染。

  3. 可靠性:核心壓縮機、循環(huán)風(fēng)機、真空泵等關(guān)鍵部件均采用國際品牌,保證設(shè)備長期連續(xù)穩(wěn)定運行。

  4. 人性化操作:大型彩色觸摸屏人機界面,程序編輯簡單直觀,可存儲多組測試程序,支持遠(yuǎn)程監(jiān)控。

  5. 全面安全保護:具備超溫、過載、漏電、缺水、壓力異常等多重安全保護系統(tǒng),確保設(shè)備與樣品安全。

工作原理

設(shè)備通過壓縮機制冷系統(tǒng)實現(xiàn)快速降溫,通過內(nèi)置加熱器實現(xiàn)升溫,從而在密閉的箱體內(nèi)構(gòu)建精確的溫度環(huán)境。同時,通過真空泵組將箱體內(nèi)的空氣抽出,形成并維持所需的低氣壓(真空)環(huán)境。控制系統(tǒng)實時采集箱內(nèi)的溫度和壓力數(shù)據(jù),并與設(shè)定值進行比較,動態(tài)調(diào)節(jié)制冷、加熱及抽氣系統(tǒng)的工作狀態(tài),從而實現(xiàn)高低溫與低氣壓的綜合、精確模擬。



滿足標(biāo)準(zhǔn)

  • GB/T 2423.1、 GB/T 2423.2、 GB/T 2423.25 (電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗)

  • GJB 150A (裝備實驗室環(huán)境試驗方法)

  • JESD22 (JEDEC固態(tài)技術(shù)協(xié)會標(biāo)準(zhǔn))

  • IEC 60068-2系列國際標(biāo)準(zhǔn)

應(yīng)用領(lǐng)域

除半導(dǎo)體芯片、集成電路、微機電系統(tǒng)(MEMS)、封裝(如SiP, Chiplet)的測試外,還廣泛應(yīng)用于:

  • 航空航天:機載電子設(shè)備、衛(wèi)星部件的環(huán)境適應(yīng)性測試。

  • 汽車電子:汽車ECU、傳感器在高原、氣候下的可靠性驗證。

  • 通信設(shè)備:5G基站光模塊、通信芯片的高海拔工作測試。

  • 元器件:電阻、電容、晶體振蕩器等無源器件的質(zhì)量篩查。



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