冷熱沖擊試驗(yàn)箱 用于電子元件質(zhì)量檢測(cè)

產(chǎn)品概述
冷熱沖擊試驗(yàn)箱，又名溫度沖擊試驗(yàn)箱或熱沖擊試驗(yàn)箱，是用于測(cè)試電子元器件、組件及整機(jī)在瞬間經(jīng)受高溫度和極低溫轉(zhuǎn)換的環(huán)境下的耐受能力。它通過(guò)模擬嚴(yán)苛的溫度驟變條件，快速發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的潛在缺陷，是提升電子元件質(zhì)量與可靠性的關(guān)鍵檢測(cè)設(shè)備。

一、 設(shè)備亮點(diǎn)與優(yōu)勢(shì)

• 高效節(jié)能： 采用高效的制冷機(jī)組和加熱器，以及優(yōu)化的氣流設(shè)計(jì)，在保證性能的同時(shí)降低能耗。

• 穩(wěn)定可靠： 關(guān)鍵元器件（如壓縮機(jī)、控制器）均采用國(guó)際品牌，確保設(shè)備長(zhǎng)期穩(wěn)定運(yùn)行，故障率低。

• 安全智能： 具備多重安全保護(hù)功能（超溫保護(hù)、過(guò)載保護(hù)、故障報(bào)警等），確保操作人員與測(cè)試樣品的安全。

• 人性化設(shè)計(jì)： 大型觸摸屏人機(jī)界面，操作直觀簡(jiǎn)便；具備USB數(shù)據(jù)導(dǎo)出功能，便于測(cè)試數(shù)據(jù)記錄與分析。

冷熱沖擊試驗(yàn)箱 用于電子元件質(zhì)量檢測(cè)

二、 工作原理

該設(shè)備主要采用三箱式（預(yù)冷區(qū)、預(yù)熱區(qū)、測(cè)試區(qū)） 結(jié)構(gòu)。測(cè)試樣品放置于測(cè)試區(qū)（吊籃）中。工作時(shí)，通過(guò)驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)，將測(cè)試區(qū)在高溫箱和低溫箱之間進(jìn)行快速切換，使樣品在極短時(shí)間內(nèi)暴露于截然不同的溫度環(huán)境中，實(shí)現(xiàn)劇烈的溫度沖擊效果。

三、 技術(shù)參數(shù)（典型值）

• 溫度范圍： 高溫區(qū)：+60℃ ~ +150℃；低溫區(qū)：-10℃ ~ -55℃

• 轉(zhuǎn)換時(shí)間： < 10秒（從高溫到低溫或反之，樣品實(shí)測(cè)）

• 溫度恢復(fù)時(shí)間： < 5分鐘（恢復(fù)至設(shè)定溫度）

• 預(yù)熱區(qū)升溫速率： 約3~5℃/分鐘

• 預(yù)冷區(qū)降溫速率： 約0.7~1.2℃/分鐘

• 內(nèi)箱尺寸： 可根據(jù)需求定制（如 40cm x 40cm x 40cm）

四、 滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)

本設(shè)備嚴(yán)格遵循并滿(mǎn)足多項(xiàng)國(guó)際及國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)，包括但不限于：

• IEC 60068-2-14

• MIL-STD-883 （美軍標(biāo)）

• MIL-STD-202 （美軍標(biāo)）

• JESD22-A104 （JEDEC標(biāo)準(zhǔn)）

• GB/T 2423.22

五、 主要用途與應(yīng)用領(lǐng)域

• 主要用途： 用于檢測(cè)電子元件（如芯片、電阻、電容、PCB板、IC、連接器等）在溫度劇烈變化下的性能穩(wěn)定性、結(jié)構(gòu)缺陷、材料不匹配等。

• 應(yīng)用領(lǐng)域：

• 半導(dǎo)體行業(yè)： 芯片封裝測(cè)試。

• 汽車(chē)電子： 發(fā)動(dòng)機(jī)控制器、傳感器等關(guān)鍵部件。

• 航空航天： 機(jī)載電子設(shè)備的可靠性篩選。

• 通信設(shè)備： 5G模塊、基站元器件。

• 消費(fèi)電子： 手機(jī)、筆記本電腦核心部件。

六、 注意事項(xiàng)

1. 樣品放置： 測(cè)試樣品應(yīng)合理擺放，確保測(cè)試區(qū)內(nèi)空氣流通，避免遮擋風(fēng)道。

2. 易燃易爆品： 嚴(yán)禁將易燃、易爆及易揮發(fā)性物品放入箱內(nèi)測(cè)試。

3. 定期檢查： 定期檢查設(shè)備電源、壓縮機(jī)和傳動(dòng)機(jī)構(gòu)，確保運(yùn)行正常。

4. 安全操作： 測(cè)試過(guò)程中，除非必要，請(qǐng)勿打開(kāi)箱門(mén)，以防燙傷或凍傷，并避免溫度波動(dòng)影響測(cè)試結(jié)果。