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產(chǎn)品展示/ Product display

您的位置:首頁  /  產(chǎn)品展示  /  高低溫試驗(yàn)箱  /  大型高低溫試驗(yàn)箱  /  THA-800PF半導(dǎo)體芯片高低溫測(cè)試箱 精密溫控
半導(dǎo)體芯片高低溫測(cè)試箱 精密溫控

半導(dǎo)體芯片高低溫測(cè)試箱 精密溫控是專為半導(dǎo)體芯片(IC、SoC、功率器件、存儲(chǔ)芯片等)研發(fā)、質(zhì)量認(rèn)證及可靠性評(píng)估而設(shè)計(jì)的高精密環(huán)境測(cè)試設(shè)備。它模擬芯片在高低溫環(huán)境下的工作狀態(tài),用于檢驗(yàn)其電氣性能、功能穩(wěn)定性及物理特性是否滿足嚴(yán)苛的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。設(shè)備集成了精準(zhǔn)溫控、快速溫變、防靜電保護(hù)及安全監(jiān)控系統(tǒng),是半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)鏈中關(guān)鍵測(cè)試裝備。

  • 產(chǎn)品型號(hào):THA-800PF
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間:2025-12-17
  • 訪  問  量:64
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詳細(xì)介紹

半導(dǎo)體芯片高低溫測(cè)試箱 精密溫控生產(chǎn)廠家廣東皓天檢測(cè)儀器有限公司擁有專業(yè)的生產(chǎn)研發(fā)技術(shù),一站式周到服務(wù)。作為一家專注于試驗(yàn)設(shè)備產(chǎn)品的大型儀器制造商,皓天設(shè)備致力于為消費(fèi)者提供技術(shù)、品質(zhì)的優(yōu)秀產(chǎn)品。

產(chǎn)品詳情

本設(shè)備是專為半導(dǎo)體芯片(IC、SoC、功率器件、存儲(chǔ)芯片等)研發(fā)、質(zhì)量認(rèn)證及可靠性評(píng)估而設(shè)計(jì)的高精密環(huán)境測(cè)試設(shè)備。它模擬芯片在高低溫環(huán)境下的工作狀態(tài),用于檢驗(yàn)其電氣性能、功能穩(wěn)定性及物理特性是否滿足嚴(yán)苛的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。設(shè)備集成了精準(zhǔn)溫控、快速溫變、防靜電保護(hù)及安全監(jiān)控系統(tǒng),是半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)鏈中關(guān)鍵測(cè)試裝備。

半導(dǎo)體芯片高低溫測(cè)試箱 精密溫控

主要用途

  • 可靠性測(cè)試:進(jìn)行高溫工作壽命(HTOL)、低溫工作壽命、溫度循環(huán)(TMCL)、高低溫存儲(chǔ)測(cè)試,加速芯片老化,評(píng)估其壽命與失效模式。

  • 性能驗(yàn)證:測(cè)試芯片在不同溫度下的電氣參數(shù)(如閾值電壓、導(dǎo)通電阻、功耗、時(shí)鐘頻率等)漂移情況,確定其工作溫度范圍。

  • 失效分析:通過溫度應(yīng)力誘使?jié)撛谌毕荩ㄈ绾附涌斩?、材料熱失配、介層缺陷)提前暴露,便于定位分析?/span>

  • 篩選與品控:對(duì)量產(chǎn)芯片進(jìn)行高低溫篩選,剔除早期失效品,提升出廠產(chǎn)品批次質(zhì)量。

技術(shù)參數(shù)

  • 溫度范圍:-70℃ ~ +180℃(可根據(jù)需求擴(kuò)展至-85℃或+225℃)

  • 溫度波動(dòng)度:≤±0.5℃

  • 溫度均勻度:≤±2.0℃(依據(jù)國標(biāo)測(cè)試方法)

  • 升溫速率:≥3℃/min(非線性,空載)

  • 降溫速率:≥2℃/min(非線性,空載,從+25℃至-65℃)

  • 內(nèi)箱尺寸:定制化(常見40L至1000L,滿足晶圓、測(cè)試板、整盤芯片測(cè)試需求)

  • 控制精度:0.1℃

箱體結(jié)構(gòu)與材質(zhì)

  • 內(nèi)箱材質(zhì):采用高級(jí)不銹鋼板,無縫焊接,表面光潔耐腐蝕,確保腔體純凈,無污染源。

  • 外箱材質(zhì):優(yōu)質(zhì)冷軋鋼板靜電噴涂,或不銹鋼拉絲面板,結(jié)構(gòu)堅(jiān)固。

  • 保溫層:高強(qiáng)度聚氨酯發(fā)泡或玻璃棉,厚度加厚,確保絕熱性能優(yōu)異,降低能耗并保證外壁不結(jié)露。

  • 觀察窗:雙層中空電熱防霧鋼化玻璃窗,內(nèi)置LED照明,便于實(shí)時(shí)觀察測(cè)試狀態(tài)。

  • 測(cè)試引線孔:標(biāo)配防靜電、可密封的測(cè)試電纜引線孔,方便連接外部測(cè)試儀(如半導(dǎo)體參數(shù)分析儀、示波器)。

滿足標(biāo)準(zhǔn)

設(shè)備設(shè)計(jì)符合或優(yōu)于以下國際、國內(nèi)及行業(yè)標(biāo)準(zhǔn):

  • 半導(dǎo)體標(biāo)準(zhǔn):JESD22-A104(溫度循環(huán))、JESD22-A101(高溫存儲(chǔ))、MIL-STD-883(微電子器件測(cè)試方法)。

  • 環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn):GB/T 2423.1/.2、IEC 60068-2-1/.2。

  • 安全標(biāo)準(zhǔn):CE、UL等電氣安全規(guī)范。

應(yīng)用領(lǐng)域

  • 集成電路設(shè)計(jì)公司:用于芯片原型驗(yàn)證與可靠性評(píng)估。

  • 晶圓制造與封測(cè)廠:用于工藝可靠性監(jiān)控與成品最終測(cè)試。

  • 功率半導(dǎo)體制造商:針對(duì)IGBT、MOSFET等器件進(jìn)行高溫大電流測(cè)試。

  • 科研院所與高校:用于微電子學(xué)、材料學(xué)相關(guān)課題研究。

  • 汽車電子、航空航天、電子:用于滿足車規(guī)級(jí)(AEC-Q100)、芯片的強(qiáng)制性環(huán)境試驗(yàn)要求。

結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)特點(diǎn)

  1. 精準(zhǔn)風(fēng)道設(shè)計(jì):采用頂部或背部垂直送風(fēng)循環(huán)系統(tǒng),配以高性能離心風(fēng)機(jī)和可調(diào)百葉,確保箱內(nèi)溫場(chǎng)均勻,風(fēng)速可調(diào),滿足芯片測(cè)試對(duì)氣流的要求。

  2. 全防靜電設(shè)計(jì):內(nèi)箱、樣品架、門封等均采用防靜電材料或接地處理,有效避免靜電積聚(ESD)對(duì)敏感芯片的損傷。

  3. 低振動(dòng)與低噪音:壓縮機(jī)與循環(huán)系統(tǒng)采用柔性連接與減振設(shè)計(jì),確保設(shè)備運(yùn)行平穩(wěn),減少機(jī)械振動(dòng)對(duì)芯片測(cè)試的干擾。

  4. 智能化控制系統(tǒng):配備大尺寸觸摸屏,可編程設(shè)定復(fù)雜溫度曲線,支持遠(yuǎn)程監(jiān)控與數(shù)據(jù)導(dǎo)出。具備多重安全保護(hù)(過熱、過流、壓縮機(jī)延時(shí)、樣品超溫保護(hù)等)。


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