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您的位置:首頁(yè) / 產(chǎn)品展示 / 復(fù)式高低溫試驗(yàn)箱 / 雙層溫度箱 / SPB-80L-2P復(fù)層恒溫恒濕試驗(yàn)機(jī) 適用于電子元件測(cè)試
產(chǎn)品型號(hào):SPB-80L-2P
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間:2026-01-04
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復(fù)層恒溫恒濕試驗(yàn)機(jī) 適用于電子元件測(cè)試生產(chǎn)廠家廣東皓天檢測(cè)儀器有限公司擁有專業(yè)的生產(chǎn)研發(fā)技術(shù),一站式周到服務(wù)。作為一家專注于試驗(yàn)設(shè)備產(chǎn)品的大型儀器制造商,皓天設(shè)備致力于為消費(fèi)者提供技術(shù)、品質(zhì)的優(yōu)秀產(chǎn)品。
產(chǎn)品詳情
本產(chǎn)品是一款專為電子元器件、PCBA(印制電路板組件)、模塊及小型整機(jī)可靠性測(cè)試而設(shè)計(jì)的精密環(huán)境模擬設(shè)備。其核心采用創(chuàng)新的“復(fù)層"(多層獨(dú)立測(cè)試艙)結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),在單臺(tái)設(shè)備內(nèi)集成了兩個(gè)或以上可獨(dú)立編程控制的測(cè)試空間。每個(gè)測(cè)試層均配備高精度溫濕度傳感器和高效循環(huán)風(fēng)道系統(tǒng),允許用戶在同一時(shí)間、同一臺(tái)設(shè)備上,對(duì)不同樣品或同一樣品在不同溫濕度條件下進(jìn)行并行對(duì)比測(cè)試,極大提升了測(cè)試效率與設(shè)備空間利用率。
主要用途
該試驗(yàn)機(jī)主要用于評(píng)估電子元件及產(chǎn)品在不同溫濕度環(huán)境下的性能、可靠性及耐久性。通過模擬高溫高濕、高溫低濕、低溫高濕、低溫低濕、溫濕度循環(huán)等應(yīng)力條件,可提前發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品因吸濕、凝露、材料膨脹/收縮、電氣性能漂移等引起的潛在缺陷,是進(jìn)行可靠性篩選(HALT/HASS)、質(zhì)量評(píng)估、失效分析和產(chǎn)品定型的關(guān)鍵設(shè)備。
復(fù)層恒溫恒濕試驗(yàn)機(jī) 適用于電子元件測(cè)試
主要功能及特點(diǎn)
獨(dú)立復(fù)層控制:各測(cè)試層溫濕度可獨(dú)立設(shè)定與運(yùn)行,互不干擾,實(shí)現(xiàn)一機(jī)多用。
高精度控制:采用進(jìn)口品牌溫濕度傳感器和PID智能算法,確保箱內(nèi)環(huán)境均勻、穩(wěn)定,控溫精度可達(dá)±0.1℃~±0.5℃,控濕精度可達(dá)±1.5%RH~±2.5%RH。
寬廣的溫濕度范圍:典型范圍涵蓋-70℃~+150℃(溫度),10%RH~98%RH(濕度),可滿足絕大多數(shù)電子測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)要求。
強(qiáng)大的編程功能:支持多段、可循環(huán)的溫濕度程序設(shè)定,可模擬晝夜交替、地域氣候、加速老化等復(fù)雜環(huán)境剖面。
安全保障與觀測(cè):具備超溫、漏電、風(fēng)機(jī)過熱等多重保護(hù);可選配雙層中空玻璃觀測(cè)窗及內(nèi)腔照明,便于實(shí)時(shí)觀察樣品狀態(tài)。
數(shù)據(jù)記錄與追溯:配備標(biāo)準(zhǔn)USB或以太網(wǎng)接口,可全程記錄并導(dǎo)出溫濕度-時(shí)間曲線數(shù)據(jù),便于測(cè)試報(bào)告生成與分析。
技術(shù)特點(diǎn)
高效節(jié)能:復(fù)層結(jié)構(gòu)共用部分制冷與控制系統(tǒng),相比多臺(tái)單箱設(shè)備,能耗更低,占地面積更小。
氣流優(yōu)化設(shè)計(jì):每層采用特殊設(shè)計(jì)的水平/垂直送風(fēng)方式,保證工作區(qū)內(nèi)溫濕度的高度均勻性。
制冷系統(tǒng):采用國(guó)際渦旋式或變頻壓縮機(jī)組成的復(fù)疊式/單級(jí)制冷系統(tǒng),冷卻速度快,運(yùn)行可靠,低溫環(huán)境下仍能穩(wěn)定除濕。
優(yōu)質(zhì)材料:內(nèi)膽采用304不銹鋼,外殼為優(yōu)質(zhì)冷軋鋼板噴塑,確保長(zhǎng)期耐腐蝕與美觀。
應(yīng)用場(chǎng)景
研發(fā)階段:用于電子新產(chǎn)品的環(huán)境適應(yīng)性驗(yàn)證、極限條件測(cè)試和設(shè)計(jì)缺陷暴露。
生產(chǎn)階段:用于批量產(chǎn)品的出廠可靠性篩選(ESS),剔除早期故障品。
質(zhì)檢階段:用于來料檢驗(yàn)(IC、電容、電感等)或成品抽檢,符合如IPC、JEDEC、IEC、GB等標(biāo)準(zhǔn)。
失效分析:重現(xiàn)現(xiàn)場(chǎng)失效環(huán)境,輔助定位產(chǎn)品失效的根本原因。




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