HAST加速老化箱 為半導體器件老化試驗護航生產(chǎn)廠家廣東皓天檢測儀器有限公司擁有專業(yè)的生產(chǎn)研發(fā)技術，一站式周到服務。作為一家專注于試驗設備產(chǎn)品的大型儀器制造商，皓天設備致力于為消費者提供技術、品質(zhì)的優(yōu)秀產(chǎn)品。

產(chǎn)品概述
HAST（高壓加速老化試驗箱）是專為半導體、集成電路及電子元器件設計的高可靠性環(huán)境試驗設備。它通過創(chuàng)造高溫、高濕、高壓的加速環(huán)境，在短時間內(nèi)模擬并驗證產(chǎn)品在長期自然使用下的耐候性與可靠性，為產(chǎn)品的質(zhì)量與壽命評估提供關鍵數(shù)據(jù)支持，是研發(fā)、品控及質(zhì)量認證中核心裝備。

主要用途

• 半導體器件可靠性評估：加速評估IC封裝、晶圓、芯片的防潮性能、金屬化層腐蝕、封裝樹脂水解等失效模式。

• 電子元件壽命測試：對電容器、電阻、連接器、模塊電源等進行加速壽命試驗。

• 材料耐候性研究：測試塑料、涂層、粘合劑、密封膠等在高溫高濕環(huán)境下的性能退化。

• 行業(yè)合規(guī)性驗證：幫助產(chǎn)品滿足JESD22-A110、JESD22-A118、MIL-STD等國際可靠性測試標準，是進入汽車電子、航空航天等領域的測試環(huán)節(jié)。

HAST加速老化箱 為半導體器件老化試驗護航

技術參數(shù)

• 溫度范圍：105℃ ~ 150℃（可擴展）

• 濕度范圍：75% RH ~ 100% RH（非飽和/飽和蒸汽）

• 壓力范圍：0.02 MPa ~ 0.3 MPa

• 控制精度：溫度±0.5℃，濕度±2.5% RH

• 內(nèi)箱容積：標準50L/100L，可定制

• 升溫時間：室溫→130℃ ≤ 40分鐘（僅箱體）

• 安全裝置：超溫保護、超壓保護、缺水保護、漏電保護等

箱體結構與材質(zhì)
箱體采用高品質(zhì) SUS304 不銹鋼，內(nèi)膽為耐腐蝕鏡面不銹鋼板，外壁為鋼板靜電噴塑，結構堅固耐用。門體配備雙層硅橡膠密封條和高強度門鎖，確保高壓下的密封性。核心部件包括：

• 加壓系統(tǒng)：采用進口高壓泵與精密壓力控制器。

• 加濕系統(tǒng)：鍋爐蒸汽加濕方式，反應迅速，控制精確。

• 加熱系統(tǒng)：鎳鉻合金翅片式加熱器，配合強制循環(huán)風機，溫場均勻。

• 控制系統(tǒng)：高精度微電腦觸摸屏控制器，可編程多段壓力/溫度/濕度曲線。

使用注意事項

1. 安全操作：試驗前確保箱門緊閉鎖好，壓力釋放后方可開門。

2. 樣品放置：被測樣品不得阻擋風道，需均勻放置，負載總量不超過內(nèi)箱容積的2/3。

3. 介質(zhì)要求：必須使用去離子水或蒸餾水，防止水垢及雜質(zhì)影響傳感器和加濕器。

4. 定期維護：定期檢查密封條、清理水垢、校準傳感器，確保設備長期穩(wěn)定運行。

5. 環(huán)境要求：設備應置于通風良好、無震動的水平場地，遠離易燃易爆物品。

亮點與優(yōu)勢

1. 高效加速，縮短周期：可在幾十至數(shù)百小時內(nèi)模擬出常溫常壓下數(shù)年才能產(chǎn)生的濕熱老化效應，極大縮短研發(fā)與驗證周期。

2. 控制精準，數(shù)據(jù)可靠：采用高精度傳感器與控制算法，確保溫濕度壓力的長期穩(wěn)定與均勻性，試驗結果重復性與可比性高。

3. 堅固耐用，安全至上：材料與結構設計，配合多重電氣與機械安全聯(lián)鎖保護，保障長時間高壓高濕環(huán)境下的運行安全與設備壽命。