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產(chǎn)品分類
Cassification
產(chǎn)品展示/ Product display
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廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
更新時間:2026-01-14
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可靠性HAST(高加速應(yīng)力測試)老化箱是一種用于模擬嚴(yán)苛溫濕度及偏壓環(huán)境的可靠性測試設(shè)備。它通過施加高溫、高濕、高壓及電偏壓等多應(yīng)力條件,快速激發(fā)電子元器件的潛在缺陷,大幅縮短傳統(tǒng)老化測試時間,是評估產(chǎn)品壽命與可靠性的關(guān)鍵工具。
本設(shè)備主要用于半導(dǎo)體芯片、集成電路(IC)、微電子封裝器件、PCB模塊、新型電子材料及元件的可靠性驗(yàn)證與壽命評估。廣泛應(yīng)用于研發(fā)階段的失效分析、量產(chǎn)前的質(zhì)量篩選以及產(chǎn)品可靠性的定量評估。
溫度范圍: +105℃ 至 +142℃(典型)
濕度范圍: 75% RH 至 100% RH(非飽和/飽和狀態(tài))
壓力范圍: 常壓至 3 個大氣壓
升溫/降溫速率: 可快速升降溫(具體依型號而定)
控制精度: 溫度±0.5℃,濕度±2.5% RH
內(nèi)箱材質(zhì): 高級不銹鋼(SUS304,耐腐蝕)
外箱材質(zhì): 優(yōu)質(zhì)冷軋鋼板噴塑或不銹鋼
結(jié)構(gòu): 采用高強(qiáng)度雙層框架,內(nèi)箱為無縫焊接,確保氣密性與承壓安全。
內(nèi)膽: SUS304不銹鋼,耐高溫高濕腐蝕。
保溫層: 高強(qiáng)度聚氨酯發(fā)泡,高效保溫節(jié)能。
大門: 雙道硅膠密封條,帶高強(qiáng)度鎖緊機(jī)構(gòu),確保高壓安全。
觀察窗: 多層鋼化玻璃,帶防凝露加熱膜。
設(shè)備通過電加熱與蒸汽發(fā)生系統(tǒng),在密閉的加壓腔體內(nèi)迅速建立高溫高濕環(huán)境。通過精密傳感器與PID控制系統(tǒng),實(shí)時調(diào)節(jié)溫度、濕度與內(nèi)部壓力至設(shè)定值。被測樣品在承受此環(huán)境應(yīng)力的同時,可疊加直流或交流電偏壓,實(shí)現(xiàn)溫-濕-電-壓多應(yīng)力復(fù)合加速老化,其失效機(jī)理與常規(guī)老化一致,但時間大幅縮短。
JESD22-A110 (JEDEC HAST)
IEC 60068-2-66
MIL-STD-883
GB/T 2423.40
及各企業(yè)自定義的加速壽命測試規(guī)范。
半導(dǎo)體行業(yè): 晶圓、芯片、封裝可靠性測試。
汽車電子: 車規(guī)級芯片與模塊的耐久性驗(yàn)證。
航空航天: 高可靠性元器件篩選。
通信設(shè)備: 5G模塊、光器件可靠性評估。
科研機(jī)構(gòu)與質(zhì)檢單位: 材料與器件失效分析研究。
高效加速: 較傳統(tǒng)高溫高濕(THB)測試效率提升數(shù)倍至數(shù)十倍。
控制精準(zhǔn): 采用多級PID與模糊算法,溫濕度波動小,測試重復(fù)性高。
安全可靠: 具備超溫、超壓、漏電、缺水等多重安全保護(hù)與報警。
人性化設(shè)計: 大尺寸觸摸屏,圖形化界面,支持程序編輯與數(shù)據(jù)導(dǎo)出。
擴(kuò)展性強(qiáng): 可集成多路偏壓電源與監(jiān)控系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)自動化測試。
采用上送風(fēng)、下回風(fēng)的垂直層流循環(huán)方式,配以大功率長軸電機(jī)與定制離心風(fēng)輪。風(fēng)道經(jīng)CFD優(yōu)化,確保箱內(nèi)溫濕度均勻度(通??蛇_(dá)±1℃,±3% RH),避免測試死角,保證所有樣品承受一致的環(huán)境應(yīng)力。



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