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HAST高加速應(yīng)力老化試驗(yàn)箱是采用高溫、高濕、高壓的非飽和蒸汽環(huán)境，對(duì)電子產(chǎn)品及材料進(jìn)行加速老化與可靠性評(píng)估的專用精密設(shè)備。它通過創(chuàng)造遠(yuǎn)高于常態(tài)的嚴(yán)苛應(yīng)力條件，能在極短時(shí)間內(nèi)模擬產(chǎn)品在長期自然使用中可能出現(xiàn)的失效，極大縮短了產(chǎn)品研發(fā)與質(zhì)量驗(yàn)證周期。

HAST試驗(yàn)機(jī) 電子產(chǎn)品加速溫濕度老化試驗(yàn)箱專用于評(píng)估電子產(chǎn)品（尤其是半導(dǎo)體器件、集成電路、印刷電路板組件、新型材料及封裝工藝）在潮濕環(huán)境下的長期可靠性壽命和抗?jié)駳鉂B透能力。它能快速暴露產(chǎn)品的潛在缺陷，如芯片腐蝕、金屬遷移、封裝開裂、分層等現(xiàn)象，廣泛應(yīng)用于研發(fā)、質(zhì)量控制和失效分析領(lǐng)域。

HAST加速老化箱 溫濕度壽命老化檢測(cè)設(shè)備是一款采用非飽和高壓蒸汽環(huán)境，對(duì)電子產(chǎn)品、半導(dǎo)體器件、高分子材料等進(jìn)行快速溫濕度老化及壽命評(píng)估的專業(yè)可靠性測(cè)試設(shè)備。它通過在高溫、高濕、高壓（通常高于常壓）的復(fù)合應(yīng)力環(huán)境下，極大加速水汽向材料內(nèi)部的滲透與擴(kuò)散，從而在短時(shí)間內(nèi)模擬出產(chǎn)品在自然環(huán)境中長期使用或儲(chǔ)存后可能出現(xiàn)的吸濕失效、腐蝕、分層、開裂等故障，是產(chǎn)品質(zhì)量控制與可靠性工程中的核心加速試驗(yàn)裝備。

HAST加速老化試驗(yàn)箱 用于芯片級(jí)可靠性評(píng)估是專為半導(dǎo)體、集成電路及電子元器件進(jìn)行快速可靠性評(píng)估與壽命預(yù)測(cè)而設(shè)計(jì)的核心環(huán)境模擬設(shè)備。它通過創(chuàng)造高溫、高濕、高壓的非飽和蒸汽環(huán)境，在極短時(shí)間內(nèi)加速產(chǎn)品因潮氣侵入、電化學(xué)腐蝕等引發(fā)的失效，從而高效評(píng)估芯片在嚴(yán)苛環(huán)境下的長期可靠性和封裝質(zhì)量。